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产品资料

常州同惠TH511半导体C-V特性分析仪

如果您对该产品感兴趣的话,可以
产品名称: 常州同惠TH511半导体C-V特性分析仪
产品型号: TH-511
产品展商: 常州同惠
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简单介绍

常州同惠TH511半导体C-V特性分析仪 TH511半导体C-V特性分析仪是同惠电子针对半导体材料及器件生产与研发的分析仪器。 TH511半导体C-V特性分析仪**性地采用了双CPU架构、Linux底层系统、10.1英寸电容式触摸屏、中英文操作界面、内置使用说明及帮助等新一代技术,适用于生产线快速分选、自动化集成测试及满足实验室研发及分析。


常州同惠TH511半导体C-V特性分析仪  的详细介绍

常州同惠TH511半导体C-V特性分析仪概述:

TH510系列半导体C-V特性分析仪是同惠电子针对半导体材料及器件生产与研发的分析仪器。

TH510系列半导体C-V特性分析仪**性地采用了双CPU架构、Linux底层系统、10.1英寸电容式触摸屏、中英文操作界面、内置使用说明及帮助等新一代技术,适用于生产线快速分选、自动化集成测试及满足实验室研发及分析。

TH510系列半导体C-V特性分析仪测试频率为10kHz-2MHz, VGS电压可达±40V,足以满足二极管、三极管、MOS管及IGBT等半导体件CV特性测试分析。得益于10.1英寸、分辨率达1280*800的电容式触摸屏,TH510系列半导体器件C-V特性分析仪可将四个参数同屏显示、所有设置、监视、分选参数、状态等可以在同一屏显示,避免了频繁的切换的操作。

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常州同惠TH511半导体C-V特性分析仪功能特点:

A.单点测试,10.1英寸大屏,四种寄生参数同屏显示,让细节一览无遗

10.1英寸触摸屏、1280*800分辨率,Linux系统、中英文操作界面,支持键盘、鼠标、LAN接口,带来了无以伦比的操作便捷性。

MOSFET*重要的四个寄生参数:Ciss、Coss、Crss、Rg在同一个界面直接显示测量结果,并将四个参数测试等效电路图同时显示,一目了然。

多至6个通道测量参数可快速调用,分选结果在同一界面直接显示。

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B.列表测试,灵活组合

TH510系列半导体C-V特性分析仪支持*多6个通道、4个测量参数的测试及分析,列表扫描模式支持不同通道、不同参数、不同测量条件任意组合,并可设置极限范围,并显示测量结果 。

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C.曲线扫描功能(选件)

TH510系列半导体C-V特性分析仪支持C-V特性曲线分析,可以对数、线性两种方式实现曲线扫描,可同时显示多条曲线:同一参数、不同Vg的多条曲线;同一Vg、不同参数多条曲线 。

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D.简单快捷设置

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E.10档分选及可编程HANDLER接口

仪器提供了10档分选,为客户产品质量分级提供了可能,分选结果直接输出至HANDLER接口。

在与自动化设备连接时,怎么配置HANDLER接口输出,一直是自动化客户的难题,TH510系列将HANDLER接口脚位、输入输出方式、对应信号、应答方式等完全可视化,让自动化连接更简单。

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F.支持定制化,智能固件升级方式

同惠仪器对于客户而言是开放的,仪器所有接口、指令集均为开放设计,客户可自行编程集成或进行功能定制,定制功能若无硬件更改,可直接通过固件升级方式更新。

仪器本身功能完善、BUG解决、功能升级等,都可以通过升级固件(Firmware)来进行更新,而无需返厂进行。

固件升级非常智能,可以通过系统设置界面或者文件管理界面进行,智能搜索仪器内存、外接优盘甚至是局域网内升级包,并自动进行升级

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G.半导体元件寄生电容知识

在高频电路中,半导体器件的寄生电容往往会影响半导体的动态特性,所以在设计半导体元件时需要考虑下列因数

在高频电路设计中往往需要考虑二极管结电容带来的影响;MOS管的寄生电容会影响管子的动作时间、驱动能力和开关损耗等多方面特性;寄生电容的电压依赖性在电路设计中也是至关重要,以MOSFET为例。

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H.标配附件

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常州同惠TH511半导体C-V特性分析仪技术参数:

产品型号

TH511

TH512

TH513

通道数

2(可选配4/6通道)

2

显示

显示器

10.1英寸(对角线)电容触摸屏

比例

16:9

分辨率

1280×RGB×800

测量参数

CISSCOSSCRSSRg,四参数任意选择

测试频率

范围

10kHz-2MHz

精度

0.01%

分辨率

10mHz                                     1.00000kHz-9.99999kHz

100mHz                                   10.0000kHz-99.9999kHz

1Hz                                          100.000kHz-999.999kHz

10Hz                                        1.00000MHz-2.00000MHz

测试电平

电压范围

5mVrms-2Vrms

准确度

±10%×设定值+2mV

分辨率

1mVrms                                    5mVrms-1Vrms

10mVrms                                  1Vrms-2Vrms

VGS电压

范围

0 - ±40V

准确度

1%×设定电压+8mV

分辨率

1mV                                           0V - ±10V

10mV                                        ±10V -±40V

VDS电压

范围

0 - 200V

0 - 1500V

0 - 3000V

准确度

1%×设定电压+100mV

输出阻抗

100Ω±2%@1kHz

数学 运算

与标称值的**偏差Δ,与标称值的百分比偏差Δ%

校准功能

开路OPEN、短路SHORT、负载LOAD

测量平均

1-255

AD转换时间(ms/次)

快速+0.56ms(5kHz) 快速:3.3ms 中速:90ms 慢速:220ms

*高准确度

0.1%(具体参考说明书)

CISSCOSSCRSS

0.00001pF - 9.99999F

Rg

0.001mΩ - 99.9999MΩ

Δ%

±0.000% -   999.9%

多功能参数列表扫描

点数

20点,每个点可设置平均数,每个点可单独分选

参数

测试频率、VgVd、通道

触发模式

顺序SEQ:当一次触发后,在所有扫描点测量,/EOM/INDEX只输出一次

步进STEP:每次触发执行一个扫描点测量,每点均输出/EOM/INDEX,但列表扫描比较器结果只在*后的/EOM才输出

图形扫描

扫描点数

任意点可选,*多1001

结果显示

同一参数、不同Vg的多条曲线;同一Vg、不同参数多条曲线

显示范围

实时自动、锁定

坐标标尺

对数、线性

扫描参数

VgVd

触发方式

单次

手动触发一次,从起点到终点一次扫描完成,下个触发信号启动新一次扫描

连续

从起点到终点无限次循环扫描

结果保存

图形、文件

比较器

Bin分档

10BinPASSFAIL

Bin偏差设置

偏差值、百分偏差值、关

Bin模式

容差

Bin计数

0-99999

档判别

每档*多可设置四个参数极限范围,四个测试参数结果设档范围内显示对应档号,超出设定*大档号范围则显示FAIL,未设置上下限的测试参数自动忽略档判别

PASS/FAIL指示

满足Bin1-10,前面板PASS灯亮,否则FAIL灯量

存储调用

内部

100M非易失存储器测试设定文件

外置USB

测试设定文件、截屏图形、记录文件

键盘锁定

可锁定前面板按键,其他功能待扩充

接口

USB HOST

2USB HOST接口,可同时接鼠标、键盘,U盘同时只能使用一个

USB DEVICE

通用串行总线插座,小型B类(4个接触位置);与USB TMC-USB488USB2.0相符合,阴接头用于连接外部控制器。

LAN

10/100M以太网,8引脚,两种速度选择

HANDLER

用于Bin分档信号输出

RS232C

标准9针,交叉

RS485

可以接收改制或外接RS232RS485模块

开机预热时间

60分钟

输入电压

100-120VAC/198-242VAC可选择,47-63Hz

功耗

不小于130VA

尺寸(WxHxDmm

430x177x405

重量

16kg


常州同惠TH511半导体C-V特性分析仪应用:

 半导体元件/功率元件

二极管、三极管、MOSFET、IGBT、晶闸管、集成电路、光

电子芯片等寄生电容测试、C-V特性分析

 半导体材料

晶圆、C-V特性分析

 液晶材料

弹性常数分析

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